薄膜導熱測試儀利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量，可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā)，其涵蓋范圍包括高等院校及科研院所、集成電路散熱材料、航空航天材料、熱電材料與器件、信息存儲與光電器件。
 

　　薄膜導熱測試儀可用于多種不同類型和幾何尺寸材料的熱導率、熱擴散系數(shù)和比熱容的測量。測試儀可以在幾分鐘的時間測量出材料的三種性能，不同的傳感器可以簡單替換以適應實驗室和現(xiàn)場使用。測試儀可實現(xiàn)全自動工作。為了縮短測試時間和減小誤差，其軟件控制做了獨立的優(yōu)化。
 

　　薄膜導熱測試儀的優(yōu)點：
 

　　1.可測量薄膜材料的熱導率，尤其是微/納米薄膜材料熱導率的高性能測量；
 

　　2.不直接測量溫度變化，而是通過測量材料在導熱過程中溫度的變化轉換為的電信號的變化來實現(xiàn)微/納米薄膜材料的熱導率，微伏級電壓值，保證測量結果的高精確度；
 

　　3.采用交流電加熱方式，同時選擇并優(yōu)化設計加熱電極的形狀與尺寸，可保證加熱均勻性及測試
 

　　4.應用的廣泛性、準確性與穩(wěn)定性；
 

　　5.待測薄膜樣品材料尺寸極小，能有效減小黑體輻射引起的測量誤差；
 

　　6.可在真空及溫度可控環(huán)境下測試，有效避免因環(huán)境溫度變化和空氣熱傳導而引起的測量誤差；友好的軟件界面。