基礎(chǔ)版本LSR-1（LSR L32）塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 在室溫至 200 °C  范圍內(nèi)可以與各種選配件結(jié)合使用，以擴展其應用范圍。例如，低溫配件，支持通過液氮冷卻實現(xiàn)低至 -160 °C 的全自動測量，可快速冷卻至 80  K（電阻測量）。可選的高溫探頭可將電阻測量擴展至 600 °C ，光照配件則支持在三波長 LED  光源下進行特定光照條件下的熱電測量。LSR-1（LSR  L32）系統(tǒng)采用范德堡法（電阻測量）、靜態(tài)直流法和斜率塞貝克系數(shù)測量技術(shù)，適用于金屬和半導體樣品的表征。

塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 其緊湊的臺式設計支持全自動和軟件控制操作，基于 Windows 的綜合軟件提供直觀的用戶界面，包括測量配置向?qū)?、?shù)據(jù)可靠性反饋以及集成的數(shù)據(jù)評估與存儲功能。真空密閉測量室與氣體計量系統(tǒng)相結(jié)合，確保滿足廣泛的應用需求，便于高精度熱電材料的研究。

獨特功能

• 模塊化系統(tǒng)設計：支持通過氣體吹掃系統(tǒng)、光照和低溫配件進行功能擴展。

• 真空密閉測量室：可在惰性、還原性、氧化性或真空等特定氣氛下進行精確測量。

• 便捷可更換樣品支架：集成主加熱和輔助加熱功能，確保高效溫控。

• 同步測量能力：可同時測量塞貝克系數(shù)和電阻（電阻率），提升實驗效率。

• 特殊接觸機制：簡化樣品制備流程，確保測量結(jié)果的高重復性和可靠性

• V-I 特性測量：以確定傳感器與樣品之間是否接觸良好。

• 全自動軟件控制：支持預定義溫度和測量曲線的自動化操作，減少人為誤差。

規(guī)格參數(shù)

應用

廣泛應用于各種塊體和薄膜形式的熱電材料塞貝克系數(shù)和電阻的測量